Страница 3 из 3 |
Различают следующие способы сканирования:
Контроль сварных швов с подкладными кольцами (пластинами):
Дефекты, располагающиеся над корневым слоем, могут быть выявлены прямым и однократно-отраженным лучом.
При контроле однократно-отраженным лучом, время приходов сигналов от подкладного кольца и дефекта, могут быть одинаковы.
Для того чтобы различить эти сигналы и избежать ошибки в оценке качества сварного соединения необходимо измерить линейной X и Y от точки ввода луча до середины усилия шва. Сигнал от подкладного кольца появляется при меньшем расстоянии между швом и ПЭП чем сигнал от дефекта расположенным выше корня шва.